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GCCDHS-C 連續空間頻(pín)率傳遞函數測量實驗

一(yī)、産品簡介

光學系統的成像及其質量評價是傳統光學研究的一(yī)個中(zhōng)心問題。我(wǒ)(wǒ)們知(zhī)道,即使一(yī)個沒有像差的完善光學系統,由于系統對光束的限制,它對點物(wù)所成的像也是一(yī)個由系統孔徑決定的衍射斑。光學系統對擴展物(wù)體(tǐ)所成的像,則是對應于構成物(wù)體(tǐ)的所有點的衍射斑的疊加。正是由于光學系統的衍射效應,使理想光學系統所成的像不能完全與物(wù)體(tǐ)本身相似。對于一(yī)個有像差的光學系統,還因爲像差的存在而影響衍射斑中(zhōng)的能量分(fēn)布,從而降低光學系統的成像質量。在傳統的像質評價方法中(zhōng),鑒别率法和星點法因不能反映成像過程的本質而受到局限。

光學傳遞函數可以定量的描述物(wù)體(tǐ)頻(pín)譜中(zhōng)各個頻(pín)率成分(fēn)經過光學系統的傳播情況,因而它可以從本質上反應物(wù)像之間的變化,比較科學的對成像質量作出評價。現在這一(yī)理論已經普遍的應用于光學設計結果的評價、光學鏡頭質量的檢測、光學系統總體(tǐ)設計以及光學信息處理等方面。

 

二、知(zhī)識點

光學傳遞函數(OTF)、調制傳遞函數(MTF)、線擴散函數、空間頻(pín)率、截止頻(pín)率、調制度、國标分(fēn)辨力闆、

 

三、涉及課程

光學、幾何光學、工(gōng)程光學、信息光學、應用光學、光學設計、光學系統設計、Zemax及在光電(diàn)類課程中(zhōng)的應用、光電(diàn)檢測技術

 

四、實驗内容

1.  光學系統的像質評價方法

2.  光學傳遞函數的測量方法