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GCXCCHJJ-B 光學系統像差傳函焦距測量綜合實驗裝置

一(yī)、産品簡介

實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異稱爲像差,該參數主要用于評價光學系統的成像質量;根據幾何光學的觀點,光學系統的理想狀況是點物(wù)成點像,即物(wù)空間一(yī)點發出的光能量在像空間也集中(zhōng)在一(yī)點上,但由于像差的存在,在實際中(zhōng)是不可能的。評價一(yī)個光學系統像質優劣的根據是物(wù)空間一(yī)點發出的光能量在像空間的分(fēn)布情況。在傳統的像質評價中(zhōng),人們先後提出了許多像質評價的方法,其中(zhōng)用得最廣泛的有分(fēn)辨率法、星點法和陰影法(刀口法)。

光學系統像質評價工(gōng)程上主要采用分(fēn)辨率法和光學傳遞函數(MTF)測量法。分(fēn)辨率法測量多用于大(dà)像差系統,實驗簡便直觀;MTF測量法适用于一(yī)些高分(fēn)辨率的光學系統。以上兩種測量方法已廣泛應用于工(gōng)程實踐中(zhōng)。

 

二、知(zhī)識點

光學系統的球差、彗差、場曲、象散、色差、分(fēn)辨力、瑞利判據、光學傳遞函數(OTF)、調制傳遞函數(MTF)、線擴散函數、空間頻(pín)率、截止頻(pín)率、調制度、國标分(fēn)辨力闆、焦距測量、鏡頭設計、星點法、刀口陰影法、剪切幹涉法

 

三、涉及課程

光學、幾何光學、工(gōng)程光學、信息光學、應用光學、光學設計、光學系統設計、Zemax及在光電(diàn)類課程中(zhōng)的應用、光電(diàn)檢測技術

 

四、實驗内容

    1、  光學系統像差的計算機模拟

    2、  平行光管的調整使用及薄透鏡焦距測量實驗

    3、  星點法觀測光學系統單色像差實驗

    4、  分(fēn)辨力闆直讀法測量光學系統分(fēn)辨率

    5、  利用變頻(pín)朗奇光栅測量光學系統MTF值實驗

    6、  基于線擴散函數測量光學系統MTF值

    7、  刀口儀陰影法原理及陰影法測量光學系統像差實驗(選配)

    8、  剪切幹涉測量光學系統像差實驗(選配)