一(yī)、産品簡介

電(diàn)子散斑幹涉( ESPI)技術是一(yī)種非接觸式全場實時測量技術 ,因其通用性強、 測量精度高、 頻(pín)率範圍寬及測量簡便等優點 ,近年來獲得了快速發展。電(diàn)子散斑幹涉無損檢測技術可以完成位移、 應變、表面缺陷和裂紋等多種測試。

二、知(zhī)識點

散斑、雙光束幹涉、電(diàn)子散斑、散斑幹涉、圖像相減、相位差計算、去(qù)噪、濾波、二值化、骨骼線、三維表面、壓電(diàn)陶瓷特性

三、涉及課程

物(wù)理光學、光學信息預處理、信息光學、傅裏葉光學、光學測量、光電(diàn)檢測、激光原理與技術

四、實驗内容

1、 電(diàn)子散斑幹涉原理實驗

2、 圖像預處理

3、 表面三維圖

4、 壓電(diàn)陶瓷特性研究